Студопедия КАТЕГОРИИ: АвтоАвтоматизацияАрхитектураАстрономияАудитБиологияБухгалтерияВоенное делоГенетикаГеографияГеологияГосударствоДомЖурналистика и СМИИзобретательствоИностранные языкиИнформатикаИскусствоИсторияКомпьютерыКулинарияКультураЛексикологияЛитератураЛогикаМаркетингМатематикаМашиностроениеМедицинаМенеджментМеталлы и СваркаМеханикаМузыкаНаселениеОбразованиеОхрана безопасности жизниОхрана ТрудаПедагогикаПолитикаПравоПриборостроениеПрограммированиеПроизводствоПромышленностьПсихологияРадиоРегилияСвязьСоциологияСпортСтандартизацияСтроительствоТехнологииТорговляТуризмФизикаФизиологияФилософияФинансыХимияХозяйствоЦеннообразованиеЧерчениеЭкологияЭконометрикаЭкономикаЭлектроникаЮриспунденкция |
Контроль аналоговых микросхем
Широкая номенклатура аналоговых ИМС предопределяет большое количество измеряемых параметров. Каждый тип аналоговой ИМС характеризуется совокупностью параметров. Таблица 8. Электрические параметры ТТЛ-ИМС различных серий
Таблица 9. Предельно допустимые режимы эксплуатации для ТТЛ-ИМС различных серий
Таблица 10. Параметры ИМС ОУ общего применения
* Двухканальный ОУ, параметры одного канала. ** Четырёхканальный ОУ, параметры одного канала. *** Минимальное значение сопротивления нагрузки, кОм. Функциональный контроль
Функциональный контроль микросхем состоит в реализации функциональных тестов, подачи на микросхему определенного набора входных тест-сигналов, формирование выходных эталонных сигналов и получении результатов логического сравнения эталонного и фактического выходного набор-сигналов. Функциональный контроль может быть проведен следующим образом: 1) в составе устройства; 2) в сравнении с эталоном; 3) алгоритмической генерации сигналов; 4) кодовым сигналом; 5) по заданной программе.
Для БИС запоминающих устройств наиболее эффективны алгоритмические сигналы; для БИС микропроцессоров – сигналы по заданной программе; для матричных БИС – псевдослучайные входы. Считается, что наиболее эффективным является не сам функциональный контроль, а функционально-параметрический контроль. Он обеспечивает одновременно контроль функционирования микросхемы и контроль статических и динамических параметров. В настоящее время разработано большое количество тестов: 1. Алгоритм теста «бег» (для контроля ОЗУ). Выполняемые операции: а) в каждой ячейке ОЗУ последовательно производят 2 обращения : запись кода и считывания и контроль; б) код первой ячейки изменяется на противоположный и последовательно контролируется содержимое всех основных ячеек; в) восстанавливается предыдущее состояние первой ячейки; г) повторяют операции б), в) последовательно для всех ячеек ОЗУ. 2. Алгоритм «марш»: а) запись кода по всем адресам; б) считывание и проверка записанного кода и запись обратного кода при переходе от первой ячейки к последующей; в) считывание, проверка, запись обратного кода в той же последовательности; г) считывание, проверка и запись обратного кода при переходе от последующей ячейки к первой; д) снова считывание, проверка и запись обратного кода при переходе от последующей ячейки к первой.
|
||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||
Последнее изменение этой страницы: 2018-04-12; просмотров: 213. stydopedya.ru не претендует на авторское право материалов, которые вылажены, но предоставляет бесплатный доступ к ним. В случае нарушения авторского права или персональных данных напишите сюда... |