Студопедия

КАТЕГОРИИ:

АвтоАвтоматизацияАрхитектураАстрономияАудитБиологияБухгалтерияВоенное делоГенетикаГеографияГеологияГосударствоДомЖурналистика и СМИИзобретательствоИностранные языкиИнформатикаИскусствоИсторияКомпьютерыКулинарияКультураЛексикологияЛитератураЛогикаМаркетингМатематикаМашиностроениеМедицинаМенеджментМеталлы и СваркаМеханикаМузыкаНаселениеОбразованиеОхрана безопасности жизниОхрана ТрудаПедагогикаПолитикаПравоПриборостроениеПрограммированиеПроизводствоПромышленностьПсихологияРадиоРегилияСвязьСоциологияСпортСтандартизацияСтроительствоТехнологииТорговляТуризмФизикаФизиологияФилософияФинансыХимияХозяйствоЦеннообразованиеЧерчениеЭкологияЭконометрикаЭкономикаЭлектроникаЮриспунденкция

Требования к сопротивлению нагрузки




Чтобы сохранить калибровку измерительного генератора по напряжению, сопротивление нагрузки должно удовлетворять требованиям:

- если генератор калиброван по напряжению в режиме холостого хода, то сопротивление нагрузки генератора должно быть много больше выходного сопротивления генератора (Rнаг.>> RГ);

- если же генератор калиброван при согласованной нагрузке (Rнаг.= RГ), то при подключении генератора к объекту контроля должно выполняться: Rнаг.= RГ.

В общем случае, необходимо применять согласующее устройство:

 

 

Рисунок 20 – Схема сопротивлений

 

 

Rвх.согл..= Rнаг, Rвых.согл.= Rвых.сх.

Сопротивление резистора выбирают таким образом, чтобы выполнялись 2 условия:

1) Rвх. согласующего устройства при подключенном объекте контроля должно быть равно Rнаг.;

2) Rвых. согласующего устройства при подключенном генераторе должно быть равно Rвых. Отключенной схемы: Rвых.согл..= Rвых.сх.

Контрольно-измерительные приборы с симметричным входом или выходом подключаются к симметричным схемам через симметрирующие элементы.

 

Оценка и способы уменьшения погрешности измерения

Контроль интегральных микросхем

Общие сведения

 

Микросхемы низкой степени интеграции – законченный функциональный узел. Качество таких микросхем можно оценить по параметрам многополюсника. Следовательно, процесс контроля сводится к измерению электрических параметров на внешних выводах. Различают контроль статических и динамических параметров и функциональный контроль.

Статические параметры измеряют после завершения переходного процесса как в самой микросхеме, так и в подключенных внешних цепях.

Динамические параметры (характеризуют переходный процесс) измеряют в течении переходного процесса. При измерении динамических параметров на временной оси задают начало измерения и конец, или задают и измеряют временной интервал между уровнями сигнала.

Функциональный контроль. Он обязателен для проверки работоспособности логических комбинационных микросхем, а также сложных преобразователей информации и запоминающих устройств. В процессе проведения функционального контроля проверяют правильность выполнения основной функции микросхемы. Кроме того, сравнивают выходную последовательность сигналов с расчетной.

Средства контроля микросхем должны удовлетворять следующим требованиям:

1) реализовать заданные: метод контроля, режимы контроля, последовательность коммутации;

2) обеспечить заданную точность контроля;

3) обеспечить защиту микросхемы от различных перегрузок, которые возникают в цепях коммутации во время переходного процесса, а также обеспечивать защиту от статического электричества;

4) контактирующие устройства должны обеспечивать надежный контакт с микросхемой и не вызывать механических повреждений;

5) источники измерительных сигналов и измерители параметров при динамическом и функциональном контроле должны быть соединены с объектом контроля с учетом вышеназванных рекомендаций.

 










Последнее изменение этой страницы: 2018-04-12; просмотров: 258.

stydopedya.ru не претендует на авторское право материалов, которые вылажены, но предоставляет бесплатный доступ к ним. В случае нарушения авторского права или персональных данных напишите сюда...